セラミック測定超音波トランスデューサーテスト
ホットセールセラミック測定超音波トランスデューサー特性テスト製品の説明：超音波コンポーネント測定器の場合、最も重要なのは、アドミタンスチャート、2つのグラフィックスの対数グラフ（2つのグラフィックスが認定資格の主な方法です）などです。
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製品説明
セラミック測定超音波トランスデューサーテスト
仕様
周波数範囲 | 1KHz -500 Khz / 1MHz / 3Mhz / 5Mhz |
基本的な精度 | <> |
スキャン速度 | 5秒/1パス（600スキャンドットに相当）（調整可能） |
周波数精度 | ±10ppm |
位相精度 | 0。15度 |
温度範囲 | 10-40摂氏 |
インピーダンス範囲 | 0.1Ω-1MΩ |
周波数ステップ | 0。1Hzから任意 |
説明
超音波インピーダンスアナライザは、主にさまざまな超音波デバイスのインピーダンス特性の測定に適用できます。
応用
1.トランスデューサーのテスト
2.音響セットのテスト
3.ピエゾセラミックのテスト
4.予知保全
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